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ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計　（JEOL JMS-T100GCV）

施設	鳥取大学
利用タイプ	利用可能機器/依頼試験

概要	質量分析装置(MS)
主な仕様	イオン源：EI/FI/FD/DEP，質量分析部：TOF，質量範囲：4～4000m/z，分解能：R≧6000　　 GC：Agilent 7890，対応キャピラリーカラム：内径0.32mm以下，温度制御範囲：50～350℃
詳細	https://orip.tottori-u.ac.jp/setsubi/machine/id029233/