| 施設 | 鳥取大学 |
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| 利用タイプ | 利用可能機器/依頼試験 |
| 概要 | 蛍光X線分析装置(XRF) |
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| 主な仕様 | 【概要】
標準物質なしで、固体および液体中のF～Uまでの元素の定性分析・半定量分析が可能 【主なスペック】 ・定性分析結果と予めソフトウェアに登録された感度ライブラリから、 概略の含有率を求めるFP法を用いて半定量分析（単位は[mass％]）を行う。 ・定量分析を行う際は標準物質が必要。（依頼者様でご用意ください） ・検出下限は軽元素Naで10ppm程度。 ＜メーカー参考HP＞ http://www.rigaku.co.jp/products/p/xfsc0002/ ＜サンプルについて＞ ・固体試料はφ50mm×H40mmの円筒形に納まるサイズまでなら測定可能 ・試料ホルダマスクはφ5，10，20，30mmが選択可能 ・粉末試料は加圧成形し、真空乾燥処理を行う ・少量で加圧成形できない場合は、ルースパウダー法を用いる 【備考】 ※利用希望される時の注意点としまして、 ご要望条件に添えないことも想定されますので、ご利用申込みの前に、 先ずは研究戦略室（設備サポート）に利用内容等をご相談下さい。 （相談先のE-mail：desp@adm.tottori-u.ac.jp） ユーザー利用には、当センターのエックス線装置取扱者登録手続きが必要です。 教育訓練を受講していただいた後、登録手続きを行います。 |
| 詳細 | https://orip.tottori-u.ac.jp/setsubi/machine/id000938/ |